Número da peça do fabricante8V182512IDGGREP
Fabricante / MarcaTexas Instruments
Quantidade disponível53910 Pieces
Preço unitárioQuote by Email ([email protected])
Descrição breveIC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
Categoria de ProdutoLógica - Lógica Especializada
Status sem chumbo / status de RoHSLead free / RoHS Compliant
Nível de sensibilidade à umidade (MSL) 1 (Unlimited)
Tempo de entrega1-2 Days
Código de Data (D / C)New
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Número da peça
8V182512IDGGREP
Status de produção (ciclo de vida)
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Tempo de espera do fabricante
6-8 weeks
Condição
New & Unused, Original Sealed
Forma de envio
DHL / FEDEX / UPS / TNT / EMS / Normal Post
Status da Parte
Active
Tipo de lógica
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Tensão de alimentação
2.7 V ~ 3.6 V
Número de bits
18
Temperatura de operação
-40°C ~ 85°C
Tipo de montagem
Surface Mount
Pacote / Caso
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Pacote de dispositivos de fornecedores
64-TSSOP
Peso
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Aplicação
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Peça de reposição
8V182512IDGGREP

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Número da peça Fabricante Descrição
8V182512IDGGREP Texas Instruments IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP