
Número da peça do fabricante | 8V182512IDGGREP |
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Fabricante / Marca | Texas Instruments |
Quantidade disponível | 53910 Pieces |
Preço unitário | Quote by Email ([email protected]) |
Descrição breve | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
Categoria de Produto | Lógica - Lógica Especializada |
Status sem chumbo / status de RoHS | Lead free / RoHS Compliant |
Nível de sensibilidade à umidade (MSL) | 1 (Unlimited) |
Tempo de entrega | 1-2 Days |
Código de Data (D / C) | New |
Download da folha de dados | 8V182512IDGGREP.pdf |
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- Número da peça
- 8V182512IDGGREP
- Status de produção (ciclo de vida)
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- Tempo de espera do fabricante
- 6-8 weeks
- Condição
- New & Unused, Original Sealed
- Forma de envio
- DHL / FEDEX / UPS / TNT / EMS / Normal Post
- Status da Parte
- Active
- Tipo de lógica
- ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
- Tensão de alimentação
- 2.7 V ~ 3.6 V
- Número de bits
- 18
- Temperatura de operação
- -40°C ~ 85°C
- Tipo de montagem
- Surface Mount
- Pacote / Caso
- 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
- Pacote de dispositivos de fornecedores
- 64-TSSOP
- Peso
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- Aplicação
- Email for details
- Peça de reposição
- 8V182512IDGGREP
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Número da peça | Fabricante | Descrição |
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8V182512IDGGREP | Texas Instruments | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |