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Numéro d'article Fabricant / marque Brève description
SN74BCT8373ADW
Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
SN74BCT8373ADWR
Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
SN74BCT8373ADWRE4
Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
SN74BCT8373ANT
Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Email: [email protected]
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