Número da peça do fabricanteSN74BCT8240ADWR
Fabricante / MarcaTexas Instruments
Quantidade disponível26020 Pieces
Preço unitárioQuote by Email ([email protected])
Descrição breveIC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Categoria de ProdutoLógica - Lógica Especializada
Status sem chumbo / status de RoHSLead free / RoHS Compliant
Nível de sensibilidade à umidade (MSL) 1 (Unlimited)
Tempo de entrega1-2 Days
Código de Data (D / C)New
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Número da peça
SN74BCT8240ADWR
Status de produção (ciclo de vida)
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Tempo de espera do fabricante
6-8 weeks
Condição
New & Unused, Original Sealed
Forma de envio
DHL / FEDEX / UPS / TNT / EMS / Normal Post
Status da Parte
Obsolete
Tipo de lógica
Scan Test Device with Inverting Buffers
Tensão de alimentação
4.5 V ~ 5.5 V
Número de bits
8
Temperatura de operação
0°C ~ 70°C
Tipo de montagem
Surface Mount
Pacote / Caso
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacote de dispositivos de fornecedores
24-SOIC
Peso
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Aplicação
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Peça de reposição
SN74BCT8240ADWR

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