のメーカー ロジック - 特殊ロジック
| 品番 | メーカー/ブランド | 簡単な説明 | 部品ステータス | ロジックタイプ | 供給電圧 | ビット数 | 動作温度 | 取付タイプ | パッケージ/ケース | サプライヤデバイスパッケージ |
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| Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Active | Scan Test Device with Buffers | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 24-SOIC | |
| Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Discontinued at - | Scan Test Device with Buffers | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 24-SOIC |