Fabricants pour Logique - Logique spécialisée
Numéro d'article | Fabricant / marque | Brève description | État de la pièce | Type de logique | Tension d'alimentation | Nombre de bits | Température de fonctionnement | Type de montage | Paquet / cas | Package de périphérique fournisseur |
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Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | Obsolete | Scan Test Device with Inverting Buffers | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 24-SOIC |