Numéro d'article Fabricant / marque Brève description État de la pièceType de logiqueTension d'alimentationNombre de bitsTempérature de fonctionnementType de montagePaquet / casPackage de périphérique fournisseur
Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC ObsoleteScan Test Device with Inverting Buffers4.5 V ~ 5.5 V80°C ~ 70°CSurface Mount24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)24-SOIC