Hersteller für Logik - Speziallogik
Artikelnummer | Hersteller / Marke | Kurze Beschreibung | Teilstatus | Logiktyp | Versorgungsspannung | Anzahl der Bits | Betriebstemperatur | Befestigungsart | Paket / Fall | Lieferantengerätepaket |
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Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Obsolete | Scan Test Device with D-Type Latches | 4.5 V ~ 5.5 V | 8 | 0°C ~ 70°C | Surface Mount | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | 24-SOIC |